10月17日下午，日本九州工业大学博士生导师、IEEE Fellow温晓青教授应邀在励行楼B407报告厅作题为“LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry”的报告。报告会由电气与信息工程学院副院长曹珍贯主持，学院80余名师生代表参加了报告会。
报告会现场（摄影：杨杰）
温晓青教授从大规模集成电路产业的新使命、现状与展望、集成电路测试等方面剖析了集成电路设计、制造、封装和测试。温晓青教授讨论了本专业领域学术研究的热点和产业发展的需求，使与会师生增长了见识、拓展了视野、开阔了思路。报告引起了与会师生的浓厚兴趣，多名师生在报告结束后就自己感兴趣的问题和温晓青教授进行了深入的交流。
